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顯微硬度計(jì)HV1000

顯微硬度計(jì)HV1000

簡(jiǎn)要描述:顯微硬度計(jì)HV1000

HV1000顯微硬度計(jì) 薄板、金屬薄片、電鍍層、微小試件硬度檢測(cè) 打印本文
無(wú)摩擦主軸結(jié)構(gòu),試驗(yàn)精度高;
高精度光學(xué)測(cè)量系統(tǒng),精密坐標(biāo)試臺(tái);
試驗(yàn)過(guò)程自動(dòng)化,操作簡(jiǎn)單,無(wú)人為操作誤差;

產(chǎn)品型號(hào): HV1000

所屬分類(lèi):科研實(shí)驗(yàn)

更新時(shí)間:2024-10-05

廠商性質(zhì):其他

詳情介紹
品牌其他品牌產(chǎn)地國(guó)產(chǎn)

顯微硬度計(jì)HV1000

HV1000顯微硬度計(jì) 薄板、金屬薄片、電鍍層、微小試件硬度檢測(cè) 打印本文 

   
無(wú)摩擦主軸結(jié)構(gòu),試驗(yàn)精度高; 
高精度光學(xué)測(cè)量系統(tǒng),精密坐標(biāo)試臺(tái); 
試驗(yàn)過(guò)程自動(dòng)化,操作簡(jiǎn)單,無(wú)人為操作誤差; 
可選配CCD攝像裝置及圖像處理系統(tǒng); 

顯微硬度計(jì)HV1000
可選配努氏壓頭進(jìn)行努氏硬度試驗(yàn); 
精度符合GB/T4340.2 ISO6507-2 和美國(guó)ASTM E384。 
應(yīng)用范圍 
滲氮層、陶瓷、鋼、有色金屬 
薄板、金屬薄片、電鍍層、微小試件 
材料強(qiáng)度、熱處理、碳化層、脫碳層和淬火硬化層的深度 
于平行平面和微小零件及薄零件的精密維氏測(cè)量。

 
主要技術(shù)參數(shù) 
測(cè)量范圍:5-3000HV 
試 驗(yàn) 力:0.09807、0.2452、0.4904、0.9807、1.961、2.942、4.904、9.807牛頓 
               (10、25、50、100、200、300、500、1000克力) 
測(cè)量系統(tǒng)放大倍數(shù):500倍、125倍 
zui小檢測(cè)單位:0.025微米 
試件允許zui大高度:75毫米 
壓頭中心至機(jī)壁距離:100毫米 
電     源:交流220伏 
外形尺寸:340 x 160 x 378毫米 
重     量:約40千克

產(chǎn)品名稱:米克PH檢測(cè)儀/筆式PH測(cè)定儀/筆式酸度計(jì) 
產(chǎn)品型號(hào):PH600

米克PH檢測(cè)儀/筆式PH測(cè)定儀/筆式酸度計(jì)  型號(hào):PH600

技術(shù)參數(shù): 

型號(hào)PH600/MI-80259-10 
測(cè)量范圍0.0 - 14.0 Ph 
解析度0.1 pH 
精確性±0.1 pH 
校準(zhǔn)一點(diǎn)手工校準(zhǔn) 
溫度補(bǔ)償 
環(huán)境0 -50°C / 32- 122°F zui大RH 95% 
電池類(lèi)型/壽命3 x 1.5V, 堿性/ 700 小時(shí)使用壽命 
尺寸/重量150 x 30 x 24 mm / 85g

 

 

 

 

產(chǎn)品名稱:逆反射標(biāo)線測(cè)試儀 
產(chǎn)品型號(hào):STT-301C

逆反射標(biāo)線測(cè)試儀 型號(hào):STT-301C

STT-301C逆反射標(biāo)線測(cè)試儀 
一、依據(jù)標(biāo)準(zhǔn) 
   STT-301C逆反射標(biāo)線測(cè)試儀參照相關(guān)技術(shù)文件和我國(guó)現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定設(shè)計(jì)而成,如照明委員會(huì)(以下簡(jiǎn)稱CIE)的出版物第72號(hào),美國(guó)ASTM D4061-94,德國(guó)DIN67520、67521,滿足GB/T 26377-2010《逆反射測(cè)量?jī)x》,GB/T16311-2009《道路交通標(biāo)線質(zhì)量要求和檢測(cè)方法》,JJG(交通)059-2004《逆反射測(cè)量?jī)x檢定規(guī)程》等標(biāo)準(zhǔn)要求。 
二、主要功能特性 
1、高集成度,完整的嵌入式結(jié)構(gòu); 
2、LED背光,高清晰真彩數(shù)字屏,輸出分辨率320×240,實(shí)時(shí)顯示測(cè)量數(shù)據(jù); 
3、系統(tǒng)內(nèi)存為 SDRAM 64MB。 
4、低功耗32位高速ARM芯片,500MHz主頻; 
5、全中文菜單模式,方便使用; 
6、可預(yù)置參數(shù),檢測(cè)時(shí)間、地點(diǎn)等系統(tǒng)信息; 
7、具有參數(shù)校驗(yàn)、自動(dòng)調(diào)零、數(shù)據(jù)存儲(chǔ),刪除,查詢等功能; 
三、技術(shù)參數(shù) 
1、儀器的觀測(cè)角α為1.05º;入射角β為88.76º(互補(bǔ)角為1.24º); 
2、光源色溫為2856K±50K(CIE A 光源); 
3、探測(cè)器為硅二管+V(λ)較正器,經(jīng)濾光器修正后符合CIE標(biāo)準(zhǔn)光度觀測(cè)者光譜光視效率V(λ)的要求; 
4、逆反射系數(shù)(R′)的測(cè)量范圍為0~1999 mcd·lx-1·m-2。 
5、顯示器:LCD液晶顯示屏



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