薄膜熱物性測試儀 型號:HCX09A
該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數(shù)。薄膜物理指出當物體很薄時,同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不一定相同,因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態(tài)下進行。根據(jù)物體表面溫度按余弦(或正弦)規(guī)律變化時的瞬態(tài)實驗模型。該儀器采用溫度波法來測試薄膜材料的熱物性參數(shù),由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態(tài)下,當溫度振蕩頻率達到一定值后,利用樣品上、下表面溫度的相位差計算導溫系數(shù)或導熱系數(shù)。儀器于研究薄膜材料熱物性特性。
主要技術參數(shù):
1.導熱系數(shù)范圍:0.05~20w/m·k
2.儀器實現(xiàn)數(shù)字化測溫,精度優(yōu)于0.2級。
3.測量結果,準確度 ±3%
4.計量加熱功率可調節(jié)±1%。
5.試樣尺寸要求:圓片或方片100*100*(0.1—5)mm.
6.測試溫度:室溫。
7.配接計算機實現(xiàn)全自動測試分析。
儀器配置:測試主機一臺,
測試軟件一套,
計算機一套用戶自備,